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详细介绍
品牌 | SYSTESTER/思克 | 应用领域 | 印刷包装 |
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薄膜厚度检测仪
适用于:塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
主要特点
接触式测量原理
测厚传感器
触摸屏操作
扁平化人机交互界面显示
真彩色液晶显示试验数据、结果
手动、循环、预约定时多种测量模式
测试过程全自动完成
内嵌zui大值、值、平均值、标准差数据统计分析功能
本机内置历史数据查询功能
配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告
配置标准通信接口
可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)
技术指标
测量范围:0~2mm(标配)0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25次/min(可调)
测量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)
执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜厚度检测仪
产品配置
主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件
注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与解释权!
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