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薄膜金属箔厚度测试仪

薄膜金属箔厚度测试仪

型    号:
报    价: 68500
更新时间:2024-04-17
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薄膜金属箔厚度测试仪适用于:塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权!

薄膜金属箔厚度测试仪的详细资料:

薄膜金属箔厚度测试仪

薄膜金属箔厚度测试仪

主要特点

接触式测量原理

德国测厚传感器

工业 TFT 屏,触摸屏操作

零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷

真彩色液晶显示试验数据、结果

手动、循环、预约定时多种测量模式

自动进样,支持左右双向进样

测试过程全自动完成

内嵌最*值、最小值、平均值、标准差数据统计分析功能

本机内置历史数据查询功能

配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告

配置标准通信接口

可支持 DSM 实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)

技术指标  测量范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)

分 辨 率:0.1μm  

测量速度:1~25 次/min(可调)

测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)

纸张:200mm2,50±1kPa(可选)

进样步距:0.1mm~1500mm

进样速度:0.1mm/s~150mm/s

电 源:AC 220V 50Hz  

进样装置尺寸:287 mm (L)×180 mm (B)×210 mm (H)

主机外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

进样装置净重:11kg 主机

净重:38kg  

执行标准  GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、 ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、 BS 4817

薄膜金属箔厚度测试仪

产品配置  

标准配置:主机、自动进样装置、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

选 购 件:纸张测量头、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统

注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权!




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