薄膜全自动高精准厚度测试仪适用于：塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜全自动高精准厚度测试仪

技术指标：

测量范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）

分 辨 率：0.1μm

测量速度：15次/min（可调）

测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）

接触面积：50mm²（薄膜）；200mm²（纸张）

检测范围：0～2mm（常规）0～6mm；12mm（可选）

  备注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制

产品特点：

32位嵌入式系统控制技术

技术，，直观，操作方便

触摸屏操作

所有操作均可在一个平面内完成，无须进入退出操作

TFT真彩色液晶显示

接触式厚度测量

测试过程自动化完成

手动、自动双重测量模式

可采用标准厚度计量工具标定、检验

符合GB，ASTM等多种标准规定，标准接触面积、测量压力（可定制）

量程可调（可根据要求定制）

配置微型打印机，可自动打印试验数据

薄膜全自动高精准厚度测试仪

产品配置

标准配置：主机、自动进样装置、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

选 购 件：纸张测量头、配套软件、通信电缆、标准量块、DSM 实验室数据管理系统

注：产品技术规格如有变更，恕不另行通知，SYSTESTER 思克保留修改权与最终解释权！

执行标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353