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薄膜纸张高精度测厚检测仪

薄膜纸张高精度测厚检测仪

型    号:
报    价: 68500
更新时间:2023-12-14
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薄膜纸张高精度测厚检测仪适用于:塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。

薄膜纸张高精度测厚检测仪的详细资料:

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THI-1801.jpg

薄膜纸张高精度测厚检测仪

主要特点

接触式测量原理

测厚传感器

触摸屏操作

扁平化人机交互界面显示

真彩色液晶显示试验数据、结果

手动、循环、预约定时多种测量模式

测试过程全自动完成

内嵌值、平均值、标准差数据统计分析功能

本机内置历史数据查询功能

配置微型打印机,可自动打印单次、统计报告

配置标准通信接口

可支持DSM实验室数据管理系统,实现数据统一管理(选购)

技术指标

测量范围:02mm(标配)010mm(可选)

率:0.1μm

测量速度:1~25/min(可调)

头:薄膜:50mm217.5±1kPa(标配)

    张:200mm250±1kPa(可选)

    源:AC 220V 50Hz

外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)

   重:38kg

执行标准

GB/T 6672GB/T 451.3GB/T 6547ASTM D645ASTM D374ASTM D1777TAPPI T411ISO 4593ISO 534ISO 3034DIN 53105DIN 53353JIS K6250JIS K6328JIS K6783JIS Z1702BS 3983BS 4817

薄膜纸张高精度测厚检测仪

产品配置

主机、薄膜测量头、微型打印机、标准量块一件

注:产品技术规格如有变更,恕不另行通知,SYSTESTER思克保留修改权与解释权!


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