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纸张测厚仪的工作原理和技术指标
点击次数:239 更新时间:2024-01-11
纸张测厚仪的工作原理和技术指标
纸张测厚仪THI-1801适用于塑料薄膜、薄片、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。接触式测量原理,采用德国测厚传感器;严格符合标准要求,保证测试的规范性和准确性。工业TFT屏,触摸屏操作;零导航深度的扁平化界面 UI,操作更加方便快捷。手动、循环、预约定时多种测量模式,测试过程全自动完成;实验简单高效。
纸张测厚仪的工作原理:
机械接触式测试方法,是通过位移传感器测试薄膜材料的厚度。在测试前,仪器的测量头落在设备砧板上,传感器读取测量头的初始位移值,测量头抬起后,将试样放置在砧板纸上,测量头以同样的压力落在试样上,传感器读取测量头的位移值,两次位移值之差则为试样的厚度值。
纸张测厚仪的技术指标:
测试范围:0~2mm(标配) 0~10mm(可选)
分 辨 率:0.1μm
测量速度:1~25次/min(可调)
测 量 头:薄膜:50mm2,17.5±1kPa(标配)
纸张:200mm2,50±1kPa(可选)
电 源:AC 220V 50Hz
外形尺寸:330 mm (L)×285 mm (B)×370 mm (H)
主机净重:38kg
THI-1801 测厚仪执行标准
GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、DIN 53105、DIN 53353、JIS K6250、JIS K6328、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817


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